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[00017086]一种非完全数据下的光学层析重建计算方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201010231603.4

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 南昌航空大学

所在地:江西 南昌市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

摘要:一种非完全数据下的光学层析重建计算方法,其特征是方法步骤为:1)对每个投影方向,基于已知投影数据,得到一组缺失投影数据估计值;2)计算中只用到已知投影数据;3)得到缺失投影数据的另一组估计值;4)重投影估计值的权重逐渐增加;5)重建与修正同时进行,最终得到所有缺失投影数据的无偏估计值及精确的重建结果。本发明的优点是:该方法结合拉格朗日插值预估与重投影修正,并且将重建与修正过程同时进行,以得到缺失数据的无偏估计值并解决非完全数据下的光学层析重建问题。

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