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[00017635]一种基于近景摄影测量技术的半孔率统计方法

交易价格: 面议

所属行业: 硬件/数码

类型: 专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:

专利号:201410467656.4

交易方式: 完全转让

联系人: 武汉大学

所在地:湖北 武汉市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种基于近景摄影测量技术的半孔率统计方法,采用近景摄影技术对爆后台阶预裂面和光爆面进行快速非接触测量,获取预裂面和光爆面空间三维信息,建立台阶面三维 DEM 模型。通过影像识别技术,划分预裂孔和光爆孔的孔痕,并根据孔痕在预裂面和光爆面上的不平整度来划分每一个炮孔半孔的长度。统计所有炮孔的半孔信息,计算得出评价此次爆破效果的半孔率。优点是:本发明可以极大地提高半孔率的统计精度,减小统计误差,降低作业成本;采用数字近景摄影测量技术,可以获取更加完整的预裂面和光爆面信息,有利于爆区信息的存储,同时也可以提高预裂和光爆效果评价的可靠度。

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