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[00017712]一种测量绝缘子结构高度的装置

交易价格: 面议

所属行业: 其他仪器仪表

类型: 专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:

专利号:201621230497.7

交易方式: 完全转让

联系人: 武汉大学

所在地:湖北 武汉市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本实用新型提供一种测量绝缘子结构高度的装置,包括基座(1)、吊框(2),所述吊框(2)包括横梁(21)与立柱(22),所述横梁(21)与所述立柱(22)垂直,所述立柱(22)与所述基座(1)的底面垂直,所述立柱(22)上有测量刻度,所述横梁(21)上设置有悬挂件(3),所述悬挂件(3)包括连成一体的悬挂部(31)和连接部(32),所述悬挂部(31)与所测量的绝缘子(4)的钢脚的形状相同。所述基座(1)上可以设有水平仪(11),底部还可以设有 3 个调平支脚(12),本装置还可以包括测量件(5),所述测量件(5)可吸附在绝缘子上。本实用新型结构简单、使用方便,在提高绝缘子结构高度的测量精度方面实用性强。

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