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[00022278]晶粒尺寸影响超声波评价材料应力的修正方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201610391985.4

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 江苏科技大学

所在地:江苏 镇江市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种晶粒尺寸影响超声波评价材料应力的修正方法,属于超声波无损评价技术领域。该方法基于超声波在试样中能量衰减分析,制备传播距离恒定的双超声波探头,采用热处理方式获得不同晶粒尺寸的试样,通过超声波声弹性系数标定实验,计算并建立各晶粒尺寸试样超声波信号间时间差与应力间关系,采用线性拟合函数获得各晶粒尺寸试样的超声波声弹性系数,通过幂函数拟合获得超声波声弹性系数与晶粒尺寸间函数,进而实现晶粒尺寸影响超声波评价材料应力的修正。本发明为晶粒尺寸影响材料应力的评价提供了一种无损方法,具有快速、方便、安全,可实现在线评价等优点。

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