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[00034006]一种自带基准的位移测量装置及测量方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201010129320.9

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 西安交通大学

所在地:陕西 西安市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种自带基准的位移测量装置及测量方法,该装置包括设置被测点的一点光源、复合透镜、带有前后通光缝的定位框和CCD或PSD光电器件,利用点光源透过复合透镜产生一宽视场平行光,该平行光依次通过前、后两个通光缝。当在光路中有一被测标志物时,被测标志物会挡住一部分光线,在CCD或PSD靶面上产生阴影带,测量阴影带中心相对定位框后通光缝边沿位置的变化,就可获得被测物位置的变化。该方法可应用于各种大坝、桥梁、高楼和高边坡的基点的变形测量,结构简单、性价比高,并且采用非接触式测量,测量精确度高,可实时监测。

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