[00034747]一种基于LAPJV算法的直线检测方法

交易价格： 面议

所属行业： 分析仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201710189398.1

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：西安交通大学

所在地：陕西西安市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明提供了一种基于LAPJV算法的直线检测方法，对Edline的直线检测结果进行优化。当Edline检测完一幅图像的直线之后，结果中的直线会有本应在一条直线上的直线段却未能连接起来的情况，严重影响直线检测结果在直线匹配中的应用。本发明的输入是Edline的直线检测结果，对检测直线的长度进行排序，依据排序结果选取合适的直线长度作为筛选阈值。计算所有可能的直线对的相似度，对相似度作用广义线性规划，获得最大优化情况下的匹配直线对。依据匹配直线对结果对所有直线段进行分类。最后通过最小二乘法将不同类的直线进行拟合，获得最终的优化结果。

[00034747]一种基于LAPJV算法的直线检测方法

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