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[00034953]一种模拟随机粒子衰退轨迹的剩余寿命求解方法

交易价格: 面议

所属行业: 分析仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201610605064.3

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 西安交通大学

所在地:陕西 西安市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

一种模拟随机粒子衰退轨迹的剩余寿命求解方法,先采用模型对系统衰退过程进行描述,根据历史衰退数据确定模型参数,然后采用状态递推方法对随机衰退过程的未来发展趋势进行模拟,产生若干随机粒子衰退轨迹,并采用模拟产生的随机粒子衰退轨迹计算剩余寿命概率密度,解决了原先剩余寿命概率密度函数理论计算公式无法求解的问题,实现了理论推导结果在工程实际中的应用。

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