[00040884]一种基于纳米图案的等离基元折射率传感器及其传感方法

交易价格： 面议

所属行业： 检测仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201710149279.3

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：南京大学

所在地：江苏南京市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种基于纳米图案的等离基元折射率传感器及其传感方法。该传感器是由一层等离基元纳米天线阵列和支撑该天线阵列的平整透明衬底组成，等离基元纳米天线阵列为周期性的阵列结构，其周期为50～1000纳米，厚度为10～100纳米；构成阵列结构的单个纳米天线的尺寸是按一定规律逐渐变化的，且变化范围为10～10000纳米。这种传感器通过成像设备来探测在单色光或白光源照射下，处在待测介质环境中的传感器上等离基元纳米天线阵列的亮度和色彩变化或是共振纳米天线位置的变化来实现介质折射率传感的。本发明具有探测技术简单，灵敏度高且稳定性好，所需检测设备成本低等优点。

[00040884]一种基于纳米图案的等离基元折射率传感器及其传感方法

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