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[00044507]一种基于扩散MRI微结构成像的最小核误差分析方法

交易价格: 面议

所属行业: 分析仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710251439.5

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 浙江工业大学

所在地:浙江 杭州市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

一种基于扩散MRI微结构成像的最小核误差分析方法,包括以下步骤(1),建立扩散组织模型,微结构模型包含微观结构的三个特征线性结构各向异性(LSA,Dl),平面结构各向异性(PSA,Dp)和球结构各向同性(SSI,Ds);每个体素中的每个特征模型描述为混合各向异性/各向同性模型;(2),计算特征标量,受阻和受限扩散的量通过计算估计的微结构尺度之间的差异来捕获;(3),最小核误差分析方法一般表现;(4),算法优化,引入辅助矩阵变量Z,并让S‑ΘW=Y,最小化问题利用增强的拉格朗日乘子解决。本发明结合扩散张量成像技术,提供一种稳定且高效地估计较小交角的纤维结构的基于扩散MRI微结构成像的最小核误差分析方法。

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