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[00047082]位相灵敏度极大化条纹投射测量方法
联系人： 上海大学
所在地：上海 上海市
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技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种位相灵敏度极大化条纹投射测量方法。本方法所采用的投射条纹，是以测量系统中投影机投射平面极点为圆心的圆弧形状正弦条纹。本方法测量步骤包括，①对系统进行标定，以确定投射平面上极点像素坐标和条纹位相差与物面深度之间映射关系参数；②在计算机里生成圆弧形状正弦条纹；③利用投影机将圆弧形状正弦条纹投射于参考平面，用摄像机拍摄变形的圆弧形状正弦条纹，用计算机分析条纹图像计算参考位相；④利用投影机将圆弧形状正弦条纹投射于物体表面，并用摄像机拍摄变形的圆弧形状正弦条纹，用计算机分析条纹图像以计算物面位相；⑤计算位相差；⑥将转换为物面深度数据。本方法可在全测量空间内实现位相灵敏度的极大化，有利于提高条纹投射技术的测量精度和分辨率。
