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[00050722]用固相萃取‑原子荧光光谱法测定大米中的痕量砷的方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201510416734.2

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 广西大学

所在地:广西壮族自治区 南宁市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了用固相萃取‑原子荧光光谱法测定大米中的痕量砷的方法。该方法是通过以吡咯烷二硫代氨基甲酸氨(APDC)修饰的色谱硅胶作为吸附剂分离富集砷,以硫脲‑抗坏血酸作为还原剂及掩蔽剂,建立了APDC固相萃取‑原子荧光光谱法测定大米中砷的方法。由该法测出大米中砷的荧光强度,从标准曲线上算出砷的含量。本发明的优点本发明方法是测定大米中砷含量的前处理方法。样品经过处理后显示方法线性好,方法检出限低,灵敏度高,精密度高,且操作简便、快速,结果准确,适用于大米中砷含量测定。

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