[00054442]半扫描位置的确定方法

交易价格： 面议

所属行业：

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201210008643.1

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：中国科学院深圳先进技术研究院

所在地：广东深圳市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

一种半扫描位置的确定方法，通过统计IAng在每一个取值下的连续N1组投影数据中重复采样数据包含的边界信息总和记为F(IAng)，其中，IAng为投影起始角度，及统计IAng在每一个取值下待扫描组织的辐射吸收剂量，并统计所有所述辐射吸收剂量的总和，记为D(IAng)；然后将公式Max(c1F(IAng)-c2D(IAng))的值所对应的IAng确定为起始半扫描位置；式中，IAng＝1，2，3...，N，c1、c2分别为边界信息和辐射剂量的加权因子。上述半扫描位置的确定方法，通过在不同起始角度下对连续N1组投影数据中重复采样数据包含的边界信息统计和辐射剂量的统计，进而根据图像质量和辐射剂量的要求确定最优半扫描位置。

[00054442]半扫描位置的确定方法

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