[00054885]一种叶面积指数尺度下推方法及系统

交易价格： 面议

所属行业： 检测仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201310740372.3

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：中国科学院深圳先进技术研究院

所在地：广东深圳市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明适用于遥感技术领域，提供了一种叶面积指数尺度下推方法及系统，该方法包括：获取分辨率成像光谱仪MODIS的监测数据，所述监测数据包括第一尺度下的植被指数、第二尺度下的植被指数以及第一尺度下的叶面积指数LAI₁；对所述第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数进行归一化处理；基于归一化处理后的第一尺度下的植被指数和第二尺度下的植被指数，计算获得第一尺度下的植被覆盖度和第二尺度下的植被覆盖度；基于所述第一尺度下的LAI₁、第一尺度下的植被覆盖度以及第二尺度下的植被覆盖度，计算获得第二尺度下的LAI₂；其中，所述第二尺度小于第一尺度。本发明通过降尺度方式可有效提高产品地表植被信息的监测精度。

[00054885]一种叶面积指数尺度下推方法及系统

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