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[00054908]微测辐射热计红外探测器及其制备方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201110150974.4

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 中国科学院深圳先进技术研究院

所在地:广东 深圳市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明涉及一种微测辐射热计红外探测器的制备方法,包括下列步骤:步骤A,采用CMOS工艺制造信号处理电路,同时形成红外探测器单元半成品;步骤B,采用干法刻蚀工艺刻蚀红外探测器单元半成品,形成腐蚀窗口;步骤C,淀积保护层,并刻蚀保护层形成侧墙;步骤D,通过腐蚀窗口腐蚀硅衬底,在红外探测器单元中制作悬空的悬臂和红外吸收层,并形成空腔。上述微测辐射热计红外探测器的制备方法,采用市场上商业标准CMOS工艺与MEMS工艺相结合,可以将红外探测单元与信号处理电路集成在一个芯片上,其制作工艺与标准CMOS工艺完全兼容,易于集成,非常适合大批量生产。相对于采用成本昂贵及工艺不成熟的SOI技术来说,成本得到大大降低,易于实现工业化量产。

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