[00054940]一种用于测量晶体本征分辨率的实验装置

交易价格： 面议

所属行业： 检测仪器

类型： 发明专利

技术成熟度： 正在研发

专利所属地：中国

专利号：CN201510919512.2

交易方式： 完全转让许可转让技术入股

联系人：中国科学院深圳先进技术研究院

所在地：广东深圳市

服务承诺: 产权明晰; 资料保密
对所交付的所有资料进行保密; 如实描述

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技术详细介绍

本发明公开了一种测量晶体本征分辨率的实验装置，包括工作台、放射检测装置、探测装置和处理装置，放射检测装置包括安装座、放射源和第一探测器，安装座包括X轴移动组件和Z轴移动组件，探测装置包括两个第二探测器和晶体阵列座。由于第一探测器的探测端与放射源之间可放置晶体片，使得第一探测器探测晶体片的闪烁光子，并将光信号转化为第一电信号，处理器获取第一电信号并将第一电信号与两个电信号比较，判断两个第二探测器的探测是否准确，并且放射检测装置包括X轴移动组件和Z轴移动组件能够准确调节放射源与晶体阵列的位置，提高了实验的准确性。

[00054940]一种用于测量晶体本征分辨率的实验装置

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