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[00054971]芯片单粒子效应探测方法及装置

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201610480725.4

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 中国科学院深圳先进技术研究院

所在地:广东 深圳市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种芯片单粒子效应探测方法及装置,其中方法包括:将待测芯片放入测试机台,触发待测芯片产生单粒子效应;利用使能信号随机关断待测芯片的扫描寄存器,形成随机观测矩阵;向待测芯片输入测试向量,获得待测芯片的输出测试向量,根据输出测试向量获得错误总数向量;对错误总数向量进行压缩感知信号重构,确定待测芯片内部敏感区域。本发明可以高效、便捷地对芯片单粒子效应进行探测。

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