[00054971]芯片单粒子效应探测方法及装置
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201610480725.4
交易方式:
完全转让
许可转让
技术入股
联系人:
中国科学院深圳先进技术研究院
所在地:广东 深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种芯片单粒子效应探测方法及装置,其中方法包括:将待测芯片放入测试机台,触发待测芯片产生单粒子效应;利用使能信号随机关断待测芯片的扫描寄存器,形成随机观测矩阵;向待测芯片输入测试向量,获得待测芯片的输出测试向量,根据输出测试向量获得错误总数向量;对错误总数向量进行压缩感知信号重构,确定待测芯片内部敏感区域。本发明可以高效、便捷地对芯片单粒子效应进行探测。