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[00059670]RFID标签响应频率基准测试系统及方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN200910237841.3

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 中国科学院自动化研究所

所在地:北京 北京市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

摘要:本发明提供一种RFID标签响应频率基准测试系统及方法,该系统由标准测试环境、信号源发射天线、接收天线、待测RFID标签、信号源天线支架、接收天线支架、标签支架、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成,该方法是在保持输入能量相同的情况下,通过分析一款RFID标签产品在不同测试频带内的响应特性,得到待测试RFID标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过模拟读写器读RFID标签信号实现对RFID频率范围进行测试,可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。

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