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[00063269]一种荧光寿命测量方法及系统

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201610802488.9

交易方式: 完全转让 许可转让 技术入股

联系人: 厦门立德软件公司

所在地: 

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开了一种荧光寿命测量方法及系统,方法包括以激发光照射样品,由光电倍增管接收样品产生的荧光,激发光的调制信号为频率为fE的余弦信号,并以频率为fH0的方波信号X(t)调制光电倍增管的增益电压,样品产生的荧光经过光电倍增管后,由荧光屏接收获得第一图像,采用光电探测器采集所述第一图像,获得第二图像;根据第二图像计算样品产生荧光的荧光寿命。与现有技术相比,本发明荧光寿命测量方法及系统,基于外差高次谐波调频实现荧光寿命测量,采用低频方波信号来对光电倍增管的增益电压进行调制,可放宽对像增强器的技术要求。

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