用于制备曲面阵超声波换能器的治具

技术简介： 本实用新型提供了一种用于制备曲面阵超声波换能器的治具，该治具包括底板，底板上设置有曲面凸起，曲面凸起的表面轮廓与待测物的表面轮廓相一致；第一侧板，第一侧板的第一端可拆卸地连接在底板…… 查看详细 >

一种微聚焦X光源类同轴相衬成像自动化系统

技术简介： 本实用新型涉及X光成像技术领域，具体涉及一种微聚焦X光源类同轴相衬成像自动化系统，本实用新型包括旋转平台，该旋转平台中部设有样品台，该样品台的外侧设有微焦点光源件；该微焦点光源件的数…… 查看详细 >

太赫兹波探测装置

技术简介： 一种太赫兹波探测装置，包括放置待检测样品的样品台，置于第一离轴椭圆面镜和第二离轴椭圆面镜的公共焦点；太赫兹波辐射源，置于所述第一离轴椭圆面镜的另一个焦点上，用于发出太赫兹波；第一离…… 查看详细 >

热电检测系统

技术简介： 本实用新型提供一种热电检测系统。所述热电检测系统用于检测材料纳米尺度的热电性能，所述热电检测系统包括激光激励模块、扫描探针、样品台、检测电路及控制器，所述样品台用于承载样品，所述激…… 查看详细 >

热膨胀系数的测定方法

技术简介： 本发明涉及一种热膨胀系数的测定方法。该测定方法包括确定待测样品的由单位温度变化引起的光谱峰移动量，计为χF；将待测样品和聚合物进行混合得到混合物，将混合物超声分散得到复合材料；用应…… 查看详细 >

一种用于测量晶体本征分辨率的实验装置

技术简介： 本发明公开了一种测量晶体本征分辨率的实验装置，包括工作台、放射检测装置、探测装置和处理装置，放射检测装置包括安装座、放射源和第一探测器，安装座包括X轴移动组件和Z轴移动组件，探测装置…… 查看详细 >

毫米波样品检测方法和系统

技术简介： 一种毫米波样品检测系统，包括毫米波信号收发模块、二维平移台及控制模块；所述毫米波信号收发模块用于生成并发送样品扫描成像所需要的毫米波信号，接收并处理样品反射回来的毫米波信号；所述二…… 查看详细 >

一种用于测量晶体分辨率的实验平台

技术简介： 本发明公开了一种用于测量晶体分辨率的实验平台，包括底座；两个探测器，两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上，并且两个所述探测器的检测端面对面设置；晶体座，所述晶体座上端设有用于…… 查看详细 >

一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统及方法

技术简介： 本发明涉及计算机控制技术领域，具体涉及一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统，本发明包括：环形轨道，所述环形轨道上接有直线轨道，所述直线轨道的两末端分别与环形轨道相接，所述环形轨道上…… 查看详细 >

灯检机

技术简介： 一种灯检机，其包括承载装置和驱动装置，载装置包括承载板、穿过承载板的多个旋转托盘，以及与旋转托盘对应的多个夹持机构。旋转托盘和夹持机构用于配合固定待测物体。驱动装置用于驱动旋转托盘…… 查看详细 >

锥束CT扫描成像方法及系统

技术简介： 一种锥束CT扫描成像方法，包括以下步骤：平移探测器，使成像视场覆盖被扫描物体至少一半的部分；对被扫描物体进行扫描，得到投影图像序列集；根据所述投影图像序列集进行图像重建。上述锥束CT扫…… 查看详细 >

一种微流控液体波导电化学发光检测装置

技术简介： 一种微流控液体波导电化学发光检测装置，包括芯片、光波导及信号检测器，所述芯片开设有样品流道及波导流道，所述样品流道用于注入样品液体，所述波导流道用于注入波导液体以形成液体波导，所述…… 查看详细 >