轴类零部件涂层摩擦磨损试验机

技术简介： 本发明的轴类零部件涂层摩擦磨损试验机，包括安装支架、电机、杠杆负载测试装置、信息采集及处理模块、计算机及电源开关，其中，杠杆负载测试装置包括加载杠杆、摩擦接触件、调平单元、加载单元…… 查看详细 >

一种测定含氢类金刚石涂层在低温下的热膨胀系数的方法

技术简介： 本发明适用于涂层技术领域，提供了一种测定含氢类金刚石涂层在低温下的热膨胀系数的方法，包括以下步骤以两种不同衬底制备a-CH涂层样品A样品和B样品；依次测量A样品和B样品在T0、T1下的曲率半径…… 查看详细 >

一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统

技术简介： 本实用新型涉及计算机控制技术领域，具体涉及一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统，本实用新型包括：环形轨道，所述环形轨道上接有直线轨道，所述直线轨道的两末端分别与环形轨道相接，所述环…… 查看详细 >

瓶装液体中异物的检测方法及系统

技术简介： 本发明涉及超声成像自动检测技术领域，具体公开一种用于检测瓶装液体中异物的方法及系统。本发明的方法包括步骤S1使用空气耦合超声成像技术，采集待测瓶装液体的超声图像；S2对采集得到的待测样…… 查看详细 >

用于制备曲面阵超声波换能器的治具

技术简介： 本实用新型提供了一种用于制备曲面阵超声波换能器的治具，该治具包括底板，底板上设置有曲面凸起，曲面凸起的表面轮廓与待测物的表面轮廓相一致；第一侧板，第一侧板的第一端可拆卸地连接在底板…… 查看详细 >

一种微聚焦X光源类同轴相衬成像自动化系统

技术简介： 本实用新型涉及X光成像技术领域，具体涉及一种微聚焦X光源类同轴相衬成像自动化系统，本实用新型包括旋转平台，该旋转平台中部设有样品台，该样品台的外侧设有微焦点光源件；该微焦点光源件的数…… 查看详细 >

太赫兹波探测装置

技术简介： 一种太赫兹波探测装置，包括放置待检测样品的样品台，置于第一离轴椭圆面镜和第二离轴椭圆面镜的公共焦点；太赫兹波辐射源，置于所述第一离轴椭圆面镜的另一个焦点上，用于发出太赫兹波；第一离…… 查看详细 >

热电检测系统

技术简介： 本实用新型提供一种热电检测系统。所述热电检测系统用于检测材料纳米尺度的热电性能，所述热电检测系统包括激光激励模块、扫描探针、样品台、检测电路及控制器，所述样品台用于承载样品，所述激…… 查看详细 >

热膨胀系数的测定方法

技术简介： 本发明涉及一种热膨胀系数的测定方法。该测定方法包括确定待测样品的由单位温度变化引起的光谱峰移动量，计为χF；将待测样品和聚合物进行混合得到混合物，将混合物超声分散得到复合材料；用应…… 查看详细 >

一种用于测量晶体本征分辨率的实验装置

技术简介： 本发明公开了一种测量晶体本征分辨率的实验装置，包括工作台、放射检测装置、探测装置和处理装置，放射检测装置包括安装座、放射源和第一探测器，安装座包括X轴移动组件和Z轴移动组件，探测装置…… 查看详细 >

毫米波样品检测方法和系统

技术简介： 一种毫米波样品检测系统，包括毫米波信号收发模块、二维平移台及控制模块；所述毫米波信号收发模块用于生成并发送样品扫描成像所需要的毫米波信号，接收并处理样品反射回来的毫米波信号；所述二…… 查看详细 >

一种用于测量晶体分辨率的实验平台

技术简介： 本发明公开了一种用于测量晶体分辨率的实验平台，包括底座；两个探测器，两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上，并且两个所述探测器的检测端面对面设置；晶体座，所述晶体座上端设有用于…… 查看详细 >