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技术简介: 本实用新型公开了一种自支撑氮化镓单异质结声电荷输运延迟线,包括自支撑氮化镓半绝缘型衬底,自支撑氮化镓半绝缘型衬底上设置有缓冲层和声表面波叉指换能器,声表面波叉指换能器位于缓冲层两侧…… 查看详细 >
技术简介: 一种采用三明治结构的ZnON薄膜,三明治结构的ZnON薄膜的基底上的夹层为富氮ZnON薄膜,富氮ZnON薄膜厚度为20‑150纳米,夹层上部的覆盖层为富氧ZnON薄膜,富氧ZnON薄膜层厚为5‑30纳米,基底为硅…… 查看详细 >
技术简介: 一种非易失性电荷俘获型存储器件中的电荷存储材料,所述存储材料为混合氧化物材料,(CuO)x(Al2O3)1-x混合氧化物,x取值为0.1-0.8;所述电荷存储材料在非易失性电荷俘获型存储器件中的应用,非易…… 查看详细 >
技术简介: 一种基于光调控的垂直自旋场效应晶体管,中间层为非磁性半导体层,非磁性半导体层上下均为铁磁性材料薄膜;所述的非磁性半导体层为砷化镓基片,铁磁性材料薄膜上引出电极;铁磁性材料薄膜采取具…… 查看详细 >
技术简介: 本发明提出了一种基于隧穿晶体管结构的太赫兹传感器,所述隧穿晶体管结构衬底为P型/N型时,离子注入形成的源区为P+型/N+型、离子注入形成的漏区为相应为N+型/P+型;在源区上方生长一层二氧化硅…… 查看详细 >
技术简介: 基于非自对准CMOS工艺的MOSFET结构的太赫兹探测器,p型衬底209上两个n型掺杂区分别为源极区和漏极区,源极区和漏极区的中央上面为SiO2层,重掺杂多晶硅区为栅极,SiO2层置于栅极与衬底之间,MOS…… 查看详细 >
技术简介: 本发明公开了一种基于石墨烯/碳纳米管复合吸收层的人工突触晶体管,该晶体管包括自下而上依次设置的衬底、栅极介质层、石墨烯/碳纳米管复合吸收层;所述石墨烯/碳纳米管复合吸收层包括至少一层…… 查看详细 >
技术简介: 本发明公开了一种多栅极神经元晶体管,该晶体管包括源漏电极、沟道、栅介质、浮栅电极和多个输入栅极,以及输入栅极与栅介质之间的电容记忆层。其中,各输入栅极通过电容记忆层与栅介质电容共同…… 查看详细 >
技术简介: 一种可变浅结作为源漏区的浮栅结构快闪存储器,在基底P型半导体材料上方的两侧设有重掺杂N型半导体区域分别构成源极、漏极,基底中央区域的正上方依次设有底部遂穿层、浮栅存储层和顶部阻挡层,…… 查看详细 >
技术简介: 本发明公开了一种新型贴片式忆容器,包括自下至上依次设置的硅衬底、第一金属薄膜、第一氧化物薄膜、第二氧化物薄膜和第二金属薄膜,其中,所述第一金属包括Au、Cu、Pt、Ag、Co中的一种,所述第…… 查看详细 >
技术简介: 一种基于光学天线的太赫兹探测器,包括多晶硅材料层制成的光学天线、晶体管或场效应管;光学天线分别置于晶体管的源极和漏极两端,天线边缘距离晶体管栅极边缘间距为100~500nm,光学天线与晶体…… 查看详细 >
技术简介: 本发明公开了一种纳米材料透射电镜原位光电测试芯片、芯片制备方法及其应用,属于纳米材料性能原位测试技术领域。本发明的芯片包括硅基片、绝缘层、金属电极、薄膜窗口和发光二极管,在硅基片两…… 查看详细 >
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